780587-12

Die FIU (Fault Insertion Unit) PXIe‑2512 eignet sich für Hardware‑in‑the‑Loop‑Anwendungen (HIL) und die Zuverlässigkeitsprüfung elektronischer Bauteile. Jedes Modul verfügt über einen Satz Feedthrough‑Kanäle, die auf einen oder mehrere Fehlerbusse geöffnet oder kurzgeschlossen werden können. Diese Architektur kann zur Simulation offener oder unterbrochener Verbindungen sowie kanalweise für Kurzschlüsse zwischen Pins, zu Batteriespannungen und zu Masse genutzt werden. Zusammen mit dem LabVIEW Real‑Time Module eignet sich die FIU PXIe‑2512 besonders für die Validierung der Zuverlässigkeit von Steuer‑ und Regelsystemen wie ECUs und FADECs.