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RK73B1JTTD562J
Chipwiderstand, Oberflächenmontage, 5.6 kohm, ± 5%, 100 mW, 0603 [Metrisch 1608]
Abbildung ggf. ähnlich. Alle Angaben ohne Gewähr. Ausschlaggebend sind die Produktinformationen des Herstellers.
HerstellerKOA
HerstellerteilenummerRK73B1JTTD562J
Bestellnummer3548537
ProduktpaletteRK73B Series
Technisches Datenblatt
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| Menge | |
|---|---|
| 10+ | € 0,0105 |
| 250+ | € 0,0072 |
| 1000+ | € 0,0039 |
| 5000+ | € 0,0027 |
| 12500+ | € 0,0026 |
| 25000+ | € 0,0024 |
Preiseinheit:Stück (Gurtabschnitt)
Minimum: 10
Mehrere: 10
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Produktspezifikationen
HerstellerKOA
HerstellerteilenummerRK73B1JTTD562J
Bestellnummer3548537
ProduktpaletteRK73B Series
Technisches Datenblatt
Widerstand5.6kohm
Widerstandstoleranz± 5%
Nennleistung100mW
Bauform/Gehäuse des Widerstands0603 [Metrisch 1608]
WiderstandstechnologieDickschichtwiderstand
WiderstandstypUniversell
ProduktpaletteRK73B Series
Temperaturkoeffizient± 200ppm/K
Nennspannung75V
Produktlänge1.6mm
Produktbreite0.85mm
Betriebstemperatur, min.-55°C
Betriebstemperatur, max.155°C
QualifikationAEC-Q200
SVHCNo SVHC (21-Jan-2025)
Technische Spezifikationen
Widerstand
5.6kohm
Nennleistung
100mW
Widerstandstechnologie
Dickschichtwiderstand
Produktpalette
RK73B Series
Nennspannung
75V
Produktbreite
0.85mm
Betriebstemperatur, max.
155°C
SVHC
No SVHC (21-Jan-2025)
Widerstandstoleranz
± 5%
Bauform/Gehäuse des Widerstands
0603 [Metrisch 1608]
Widerstandstyp
Universell
Temperaturkoeffizient
± 200ppm/K
Produktlänge
1.6mm
Betriebstemperatur, min.
-55°C
Qualifikation
AEC-Q200
Technische Dokumente (1)
Gesetzgebung und Umweltschutz
Herkunftsland:
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.Herkunftsland:Japan
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.Herkunftsland:Japan
Land, in dem der letzte Fertigungsprozeß ausgeführt wurde.
Tarif-Nr.:85332100
US ECCN:EAR99
EU ECCN:NLR
RoHS-konform:Y-Ex
RoHS
RoHS-Phthalate-konform:Ja
RoHS
SVHC:No SVHC (21-Jan-2025)
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Produkt-Konformitätszertifikat
Gewicht (kg):.001
Produktnachverfolgung