SN74LVC1G11DBVR

Das einfache, positive AND-Gate SN74LVC1G11DBVR mit 3 Eingängen führt die Boolesche Funktion in positiver Logik aus. Die NanoFree™-Gehäusetechnologien stellen einen großen Durchbruch im Bereich von IC-Gehäusen dar. Der Baustein ist ausgelegt für die teilweise Abschaltung mittels Ioff. Die Ioff-Schaltung deaktiviert die Ausgänge, wodurch ein schädlicher Stromrückfluss durch das Gerät beim Ausschalten verhindert wird. Der ESD-Schutz übertrifft JESD 22, 2000V HBM (A114-A), 200V MM (A115-A) und 1000V CDM (C101).

• Ausgelegt für den Betrieb mit bis zu 5V VCC
• Eingang akzeptiert Spannungen bis 5.5V
• TPD, max.: 4.1ns bei 3.3V
• Niedriger Stromverbrauch, ICC: max. 10µA
• Ausgangs-Treiberstrom: ± 24mA bei 3.3V
• Ioff unterstützt die teilweise Abschaltung
• Latch-Up-Leistung übersteigt 100mA gemäß JESD 78, Klasse II
• Umweltfreundliches Produkt, frei von Sb/Br

Anwendungen

Power-Management, Audio, Unterhaltungselektronik, Tragbare Geräte, Computer & Computerperipheriegeräte, Sensortechnik, Verteidigung, Militär und Luft- & Raumfahrt, Motorantrieb & -steuerung, Kommunikation & Netzwerke, Wireless

Warnungen und Hinweise

Nur bedingt ESD-sicher! Baustein muss bei Lagerung oder Handhabung kurzgeschlossen sein oder sich in leitfähigem Schaumstoff befinden, um Schäden an den MOS-Gates durch elektrostatische Entladung zu verhindern.